Понимание надежности GaN: от квалификации до моделирования износа

В этой презентации Шенгке Чжан, вице-президент по надежности в компании EPC, рассматривается один из наиболее распространенных вопросов в области надежности силовых GaN-устройств: как производители могут с уверенностью гарантировать 10-летний срок службы, не дожидаясь десяти лет для его проверки. В докладе представлена «кривая зависимости надежности от напряжения», объяснены ограничения стандартных 1000-часовых квалификационных испытаний и описан подход «испытание до отказа», используемый для прогнозирования долговременного износа. На примере модулей преобразователей промежуточной шины (IBC) 48 В для центров обработки данных Чжан подчеркивает влияние температурных циклов, анализа механизмов отказов и моделирования срока службы на основе физических принципов для обеспечения надежной работы GaN-устройств в требовательных приложениях с высокой плотностью мощности.