Лекция 108. Краш-тест цифровых микросхем К155ЛА3 и К131ЛА3

Экспериментально исследовано поведение логических схем низкой степени интеграции при различных питающих напряжениях. Достигнуты пределы теплового нарушения работы микросхем. Показано, что схемы серии 155 работоспособны при двукратном превышении напряжения питания Список всех лекций на сайте автора в описании канала.